Hioki BT3554

Testeur d’impédance Hioki BT3554 avec connexion Bluetooth Les testeurs de batterie portables Hioki aident à la maintenance des batteries de stockage VRLA des systèmes d’alimentation sans interruption (ASI), essentiels à la survie de toutes les entreprises. Le testeur de résistance interne de batterie BT3554-50 définit la norme pour l’évaluation de la détérioration et de la durée de vie restante des systèmes ASI et autres batteries VRLA en fournissant un diagnostic complet par le biais d’un test de résistance de batterie. L’électrode de type broche L2020, spécialement conçue, améliore encore l’efficacité des tests grâce à une pointe en forme de L qui vous permet d’atteindre profondément les supports de batterie pour sonder complètement les bornes. Le testeur d’impédance Hioki BT3554 permet un diagnostic complet des batteries VRLA grâce à un dispositif unique.

• La mesure de la batterie peut être effectuée pendant que la batterie est connectée au dispositif hôte, sans qu’il soit nécessaire de la débrancher.
• La technologie de réduction du bruit améliore la résistance au bruit
• Mesurez et sauvegardez les données en seulement deux secondes, soit une amélioration de 60 % par rapport au modèle 3554 précédent
• L’écran et le guidage audio permettent de simplifier les mesures
• Diagnostiquez l’état de dégradation de la batterie de façon instantanée (RÉUSSITE, AVERTISSEMENT, ÉCHEC) en mesurant la tension et la résistance internes.
• Les données des mesures sont associées aux informations du site et sauvegardées, ce qui permet de réduire la durée du temps de travail des gestionnaires
• Ce nouveau protecteur offre une meilleure ergonomie et une plus grande durabilité sur le terrain.
• Compatible avec l’adaptateur sans fil Z3210 (disponible séparément)
• Testeur de batterie portable le plus populaire pour une large gamme de batteries VRLA et de systèmes d’ASI
• Mesurez et sauvegardez les données en seulement deux secondes
• Fonction de comparaison permettant une prise de décision rapide : « réussite/avertissement/échec »
• Source de test ca 1 kHz
• Résolution de 1 μΩ sur une plage de 3 mΩ
• ± 6 V à ± 60 V